Svjetski dan mjeriteljstva 2019

 

Poruka direktora

BIPM-a i BIML

 

 

   

Martin Milton

Direktor BIPM-a

Anthony Donnellan

Direktor BIML-a

 

Međunarodni sustav jedinica (SI) iz temelja bolji"

 

Međunarodni sustav jedinica (SI) općeprihvaćeni je skup jedinica koji se primjenjuje u svim područjima mjerenja. Iako se njime prvenstveno želi osigurati temelj za mjerenja koja su nepromjenjiva kroz duže vremensko razdoblje, ovaj sustav oduvijek je bio praktičan i dinamičan jer se mijenjao kako bi iskoristio najnoviji znanstveni napredak.  

U studenome 2018. godine u Versaillesu se sastala  Generalna konferencija za utege i mjere i dogovorila neke od najznačajnijih promjena SI sustava od njegovog utemeljenja 1960. godine. U skladu s tim promjenama, SI sustav treba se temeljiti na najboljem razumijevanju prirodnih zakona, čime će se ukloniti veza između SI sustava i definicija temeljenih na fizičkim artefaktima. Promjene su zasnovane na rezultatima istraživanja novih mjernih metoda koje se koriste kvantnim fenomenima kao temeljem za osnovne etalone.

Navedene promjene dogovorene su u studenome 2018. godine, a stupit će na snagu 20. svibnja 2019. godine.  Izbor spomenutog datuma povezan je s obilježavanjem godišnjice potpisivanja Konvencije o metru, koja se slavi na Svjetski dan mjeriteljstva. S obzirom na to da se u budućnosti očekuju dalekosežne posljedice ovih promjena, osobita se pozornost posvećuje osiguranju kompatibilnosti novih definicija s dosadašnjima, u trenutku njihovog uvođenja. Navedene promjene bit će gotovo neprimjetne svima, osim najzahtjevnijim korisnicima. Postoji, međutim, mogućnost da se u konačnici promijeni način uspostave mjerne sljedivosti. I dalje će se na globalnoj razini raditi na usklađivanju načina funkcioniranja instrumenata korištenih u postupcima mjerenja kako bi se osiguralo da trgovina, industrija i potrošači ne primijete nikakvu razliku kod mjerila mase, duljine i ostalih mjerila kojima se koriste. 

Nove definicije koriste “prirodne zakonitosti za stvaranje mjeriteljskih zakonitosti”, povezujući mjerenja na atomskoj i kvantnoj razini s mjerenjima na makroskopskoj razini. Tako se ostvaruje zajednički cilj “metričkog sustava” usmjeren prema omogućavanju opće dostupnosti dogovorenih temelja mjerenja širom svijeta. Na taj će se način osigurati temelj za buduće inovacije u mjerenjima, koje će omogućiti da se, koristeći atomske i kvantne fenomene, kroz definicije sekunde, metra i ampera postignu one razine točnosti koje su ograničene samo našom mogućnošću uočavanja.

 
Plakat